- 加熱爐設(shè)備
- 晶體及材料
- 破碎/球磨設(shè)備
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- 薄膜制備
- 配件
- 其它實(shí)驗(yàn)室設(shè)備
手持式四探針電阻率測試儀
- 型號：
- M-3
- 產(chǎn)品概述：
- M-3手持式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價比測量儀器。廣泛適用于半導(dǎo)體材料廠、科研單位、高等院校四探針法對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試。
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技術(shù)參數(shù)產(chǎn)品視頻實(shí)驗(yàn)案例警示/應(yīng)用提示配件詳情
| 名稱
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手持式四探針電阻率測試儀-M-3 |
| 產(chǎn)品特征
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測試儀由M-3型主機(jī)和四探針探頭兩部分組成 手持式設(shè)計(jì)，帶完善厚度、形狀修正功能，測試精準(zhǔn) 寬量程：超寬五個檔位，相當(dāng)于中檔臺式機(jī)的量程 操作簡便、性能穩(wěn)定：輕觸數(shù)字化鍵盤實(shí)現(xiàn)參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換，LED數(shù)字表頭顯示 多款探頭可選，適用于各種不同材料的導(dǎo)電性能測試
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| 工作電源
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208-240V，50/60Hz 電池供電：DC3.7V
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| 探頭
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碳化鎢探針探頭（固體材料）：測試硅等半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料（詳見圖1） 球形或平頭鍍金銅合金探針探頭（薄膜）：可測金屬箔、碳紙等導(dǎo)電薄膜，也可測陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導(dǎo)電涂層膜，如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層（詳見圖2） 圖1圖2 圖3
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| 選配
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可選配快速恒壓四探針測試臺，對測試壓力進(jìn)行調(diào)節(jié)保證恒壓測試，提高測試的精確度 
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| 測量范圍、分辨率
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電阻：0.010～50.00kΩ 分辨率：0.001～10 Ω 電阻率：0.010～20.00kΩ-cm 分辨率：0.001～10 Ω-cm 方塊電阻：0.050～100.00kΩ/m2 分辨率0.001～10Ω/m2
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| 基本誤差
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±1%FSB±2LSB |
| 外形尺寸
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210mm L × 100mm W × 36mm H |
| 凈重
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0.3kg |
| 質(zhì)保期
|
一年保質(zhì)期，終生維護(hù) |
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